小兒癲癇風險更大 影像檢查可知發熱性癲癇風險

癲癇癥不僅是成年人才會發生的疾病，現在已經有不少的兒童也患上了癲癇癥。小兒癲癇跟成人癲癇還是有一些不同的，而且由于年齡小，身體各方面發育不成熟，所以小兒癲癇發作可能會對大腦等造成嚴重的影響。

小兒癲癇的癥狀

小兒癲癇包括兩種特殊發作類型--嬰兒痙攣和熱性驚厥，這兩種類型的癲癇也表現為肌肉強直性或陣攣性抽搐，主要發生于三歲以內的小兒，其病因包括遺傳因素，胎兒期、圍產期及出生后多種致病因素。

嬰兒痙攣是以突發、短暫、強烈的多發性肌肉強直性或陣攣性收縮發作為主要表現的癲癇發作。發作時患兒會出現折刀樣、鞠躬樣、頭樣的表現，也可以表現俄日擁抱反射樣痙攣發作。嬰兒痙攣多在4~6個月的嬰兒期發病，腦電圖呈高度失律。嬰兒痙攣是由圍產期、胎兒期或出生后多種因素而導致的，反復發作會導致嬰兒智力發育遲緩。

熱性驚厥是小兒急性發熱性疾病伴有的一種痙攣發作，多見于嬰幼兒，臨床表現為全身強直陣攣性發作。患兒抽搐發作與體溫高低不呈正相關，低熱也可以引發嬰兒熱性驚厥。熱性驚厥與遺傳因素有一定關系，患兒預后一般良好，常在學齡前不治而愈，多數患兒不需要應用抗癲癇藥物治療。也有一部分患兒在反復出現熱性驚厥后轉變為其他類型癲癇，需要長期藥物治療。

影像檢查可知發熱性癲癇風險

童年發燒時產生的癲癇通常是良性的。但是如果持續的時間較長的話，他們可以預示在以后的生活中癲癇的風險。一項有美國國立衛生研究院支持的研究表明，大腦成像和記錄大腦的活動可以幫助確定風險最高的兒童。研究表明，發燒時引起的癲癇時間較長的話，有些孩子有急性腦損傷，不正常的大腦解剖，改變大腦的活動，或結合的跡象。

根據神經學的研究，磁共振成像可以在72小時內掃描兒童的發熱性癲癇持續狀態。發生急性損傷時，大腦一側的海馬區會照亮。

在高燒發生過程中產生的癲癇，稱為熱性驚厥，影響3%到4%的兒童。大多數兒童能夠迅速恢復，而且健康不會受到影響。然而，眾所周知，在童年有一個或多個長期驚厥卻使癲癇發生的風險增加。一些專家估計癲癇病的風險率是發熱性癲癇持續狀態30%到 40 %，癲癇或一系列的癲癇發作可持續30分鐘至數小時。雖然大多數兒童可以從發熱性癲癇中完全恢復，有些人可能會繼續發展成癲癇。

在童年長期發熱性癲癇研究的重點是研究具體序列的風險和顳葉癲癇。這是一種最常見的癲癇發作形式，特點是在顳葉，是大腦最重要的記憶區域。

核磁共振掃描顯示，發熱性癲癇往往與海馬區的異常相關。海馬區形狀像內顳葉的豆莢。發熱性癲癇的191名兒童中，22個（11.5%）兒童通過磁共振成像顯示海馬區損傷，20個（10.5%）兒童出現海馬區發育異常。磁共振成像異常結果在產生簡單的驚厥的兒童中是罕見的，持續10分鐘或更少。96個癲癇的孩子中，只有2個（2.1%）出現海馬區發育異常，沒有人出現腦損傷。